Agfa Structurix F8 NIF — ультрачувствительная рентгеновская пленка нового поколения без усиливающих экранов, разработанная для максимально быстрой съемки при сохранении высочайшего качества изображения. Пленка обеспечивает превосходную детализацию даже при минимальной экспозиции.
Уникальные преимущества Инновационная технология предоставляет: • Максимальную скорость получения результатов • Исключительную чувствительность к излучению • Четкую передачу мельчайших деталей • Минимальные искажения изображения • Высокую точность диагностики
Области применения Пленка эффективно используется в: • Авиакосмической промышленности • Электронной промышленности • Контроле микроэлектроники • Диагностике тонких сварных швов • Исследовании композитных материалов • Работе с низкоэнергетическим излучением
Технические характеристики Ключевые параметры пленки: • Класс чувствительности: C6 • Коэффициент контрастности: 2.5–4.0 • Фактор гранулярности: 0.035 • Отношение сигнал/шум: 100 • Совместимость с оборудованием до 250 кВ • Соответствие 1 классу чувствительности ГОСТ 7512-82
Особенности формата 30×40 Крупноформатные возможности обеспечивают: • Эффективный контроль габаритных объектов • Оптимальное использование материала • Универсальность применения • Детальную визуализацию сложных конструкций • Возможность многопланового контроля
Преимущества NIF-технологии Отсутствие экранов гарантирует: • Точное отображение всех деталей объекта • Минимальные геометрические искажения • Высокую разрешающую способность • Экономию времени при съемке • Возможность работы при низких дозах излучения Пленка Agfa Structurix F8 NIF соответствует международным стандартам качества. В упаковке 100 листов. Оптимальные условия хранения: температура 4–24°C, влажность 50–60%. Срок годности — 36 месяцев.