Рентгеновская пленка FUJIFILM IX80 Envelopak + PB 10х40

FUJIFILM
21390,00
р.
FUJIFILM IX80 — высокочувствительная пленка премиум-класса, созданная для получения максимально точных и детализированных изображений при минимальной экспозиции. Усовершенствованная формула эмульсии обеспечивает исключительное качество снимков даже в сложных условиях съемки.

Ключевые преимущества
Технологическое превосходство проявляется в:
• Высочайшей разрешающей способности
• Стабильных показателях при различных условиях съемки
• Идеальном балансе контрастности
• Надежной защите от внешних воздействий
• Экономичности использования

Области применения
Широкая сфера использования включает:
• Контроль качества сварных швов металлов с низким и средним атомным числом
• Проверку литых изделий на наличие дефектов
• Диагностику авиационных конструкций
• Контроль композитных материалов
• Исследование графитовых эпоксидных композитов
• Обнаружение скрытых дефектов в структуре материалов

Особенности упаковки Envelopak + PB
Комплексная защита обеспечивается:
• Специальной защитной оболочкой Envelopak
• Интегрированными свинцовыми экранами (PB)
• Герметичностью от света и влаги
• Сохранностью свойств до окончания срока годности
• Удобством при транспортировке

Технические характеристики
Основные параметры пленки:
• Повышенная чувствительность к излучению
• Оптимальный коэффициент контрастности
• Превосходная детализация изображения
• Совместимость с различным рентгеновским оборудованием
• Соответствие международным стандартам

Преимущества формата 10×40
Увеличенный размер позволяет:
• Контролировать протяженные объекты
• Экономично расходовать материал
• Работать с объектами сложной конфигурации
• Получать детальные изображения сложных конструкций
• Оптимизировать процесс диагностики
• Эффективно исследовать крупногабаритные изделия
Пленка FUJIFILM IX80 соответствует международным стандартам качества. В упаковке 50 листов. Рекомендуется хранить при температуре 10–25°C и влажности 30–60%. Срок годности — 36 месяцев с даты производства. Совместима с большинством проявочных систем.